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测温仪 CellaPort PT 135

文章描述

CellaPort PT 135具有非常短波和窄带的光谱灵敏度。因此,与传统的光谱测温仪相比,该测温仪对干扰影响的反应要小得多,如测温仪视野中的灰尘、蒸汽或烟雾造成的信号减弱,保护屏的污损以及被测物体的辐射率波动。金属有一个物理特性,即辐射率随着较短的辐射波长和较高的物体温度而增加。因此,CellaPort PT 135是精确测量金属和非常热的物体的理想仪器。此外,高温计还可用于测量薄型半导体,因为半导体在高温计的特殊光谱范围内具有非常好的辐射特性。对于波长>1微米,硅是透明的,所以一个标准的高温计将通过硅来测量其背后材料的温度。

专题报道:
  • 测量范围 600 至 3000 °C
  • 可聚焦的可互换光学器件,用于精确调整测量距离
  • 宽带防反射精密光学器件
  • 短波和窄带光谱范围
  • 特别适合金属和硅晶圆的精确测量
  • LED显示
  • 标准:USB接口


测温仪 CellaPort PT 135
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版本 CellaPort PT 135 AF 11 
版本 CellaPort PT 135 AF 12 
版本 CellaPort PT 135 AF 13 
版本 CellaPort PT 135 AF 14 
测温范围 600 - 3500 °C 
测温范围 600 - 3500 °C 
测温范围 600 - 3500 °C 
测温范围 600 - 3500 °C 
焦点距离 0,4 m - ∞ 
焦点距离 0,2 - 0,4 m 
焦点距离 1,2 m - ∞ 
焦点距离 0,2 m - ∞ 
测量区域的形状 圆形 
距离系数 210 : 1 
距离系数 200 : 1 
距离系数 310 : 1 
距离系数 55 : 1 
镜头 PZ 20.01 
镜头 PZ 20.03 
镜头 PZ 20.06 
镜头 PZ 20.05 
测量原理 单色 
瞄准方式 目镜瞄准 

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