測定システム PKF 66-K001

測定範囲	700 - 1800 °C
センサー	ダブルフォトダイオード
スペクトルの範囲	0.95 / 1.05 µm
応答時間 t90	≤ 10 ms (T > 800 °C)
測定不安定	1 % vom Messwert [°C] zzgl. 3,0 K
繰り返し性	2 K
温度係数	0.05 %/K
解像度電流アウトプット	0.1 K + 0.005 % 選択された範囲
解像度インターフェイス	0.1 K
解像度ディスプレイ	1 K

測定ヘッド

AF 1: PA 41.01 (M30): フォーカス 0.2 m - ∞ AF 2: PKS 21.01 (M30): フォーカス 1.08 m AF 3: PA 41.05 (M16): フォーカス 0.12 m - ∞ AF 4: PZ 41.18 (M16): フォーカス 0.033 - 0.045 m AF 5: PA 41.03 (M30): フォーカス 1.8 m (sealed)

アナログアウトプット	0(4) - 20 mA リニア、スイッチ可能、スケーラブル
抵抗	≤ 500 Ω
スイッチングアウトプット	2 x PNP Open Collector 24 V DC, 2 x 150 mA max.
テスト入力	10 - 34 V DC (acc. to IEC 61131-2)
インターフェイス	IO-Link V1.1.3
パワーサプライ	18 - 32 V DC
消費電力	≤ 50 mA at 24 V DC

デイスプレイ	4桁 LED デイスプレイ赤, デジタル高さ 8 mm
ステータスデイスプレイ	3 x LED
コントロールエレメント	3 ボタン

接続	M12 ネジ 5ピン接続 (A-coding)
周辺温度	0 - 65 °C
保管温度	-20 - +80 °C
許容湿度	95 % r.H. max. (non-condensing)
寸法	Ø 30 x 210 mm (プラグ無し)
ハウジング	ステンレススチール V2A (1.4305)
保護クラス	IP 65 acc. to DIN 40050
重さ	約 0.4 kg

パラメーター

アナログアウトプット 0/4 - 20 mA アナログアウトプットの拡張 クイック調整による放射率 保護ディスクの透過レベル 減衰時定数 最大メモリー値のホールドタイム スイッチング接点の動作モード、ソース、スイッチングポイント、スイッチオン・スイッチオフディレイ 挿ポイント（X/Yペア）によるプロセス固有の影響に対する温度補正 バイタルインジケーター サービスパラメータ 工場設定へのリセット キーロック 温度または 「run 」の表示 温度単位 °C/°F 温度のシュミレーション

温度オーバーシグナル	内部温度 > 75 °Cでの信号表示
サービス機能	測定値のシュミレーション
DTD-(非連続的な温度検出) 機能	連続的プロセス中の自動温度検出
校正機能	逆相、オーバーロード、および間違いの供給電圧の場合に示す
逆相保護	M12 ネジ 5ピン接続 (A-coding)

発送範囲	赤外線放射温度計 CellaTemp PKF 測定ヘッド マニュアル (ショート) 2 固定ナット * 光ファイバーケーブルは別途注文する必要があります。